Optimal für spezielle Tests und Kleinserien
Auch in Forschung und Entwicklung werden oft hohe Stückzahlen von Proben oder Bauteilen getestet. Ziel kann z.B. sein, eine statistische Basis zur Evaluierung der Lebensdauer oder der Fehlermechanismen zu erhalten. Daneben stehen in der Vorausentwicklung oftmals auch spezielle Tests oder Messaufgaben für Kleinserien an. Ein vollautomatisiertes Produktionssystem wird hier nicht benötigt. Es geht um Flexibilität und die Möglichkeit der Anpassbarkeit an unterschiedliche Aufgaben, Materialien und Bauformen. Und genau hier liegt die Stärke unserer Paralleltestysteme.
Vom Lifetime-Test bis zur Charakterisierung neuronaler Speicherarchitekturen
Ob mit unseren µController-basierten HALT-Systemen, die für Lebensdauertests genutzt werden, spezialisierten Messsystemen wie Hochvolt-Polungssystemne für Bulkmaterialien bis 30 kV oder komplexe, voll simultane Charakterisierungssysteme für memristive Speicherarchitekturen: Durch die flexible Kombination der einzelnen Module mit zusätzlichen Verstärkern, Temperaturreglern und Probenhaltern entstehen immer individuell anpassbare Systeme.
Auch für Ihren Anwendungsfall haben wir die passende Lösung. Sprechen Sie uns gerne an.