Standard heute: PSHU
Bei der Charakterisierung von Bulkmaterialien ist unser Probenhalter PSHU in Kombination mit dem Messsystem PES Standard. Allein in der Basisversion wird er bereits mehr als 120-Mal im Markt eingesetzt. In engem Kontakt mit unseren Kunden haben wir diesen Probenhalter über mehr als ein Jahrzehnt hinweg kontinuierlich weiterentwickelt. Er ist für Sie heute daher in verschiedenen Ausführungen verfügbar – auch für Messungen im Temperaturbereich von -100 °C bis 600 °C.
Jede Variante bietet spezifische Vorteile – vom Standard bis hin zu PSHU HT für die Charakterisierung von Hochtemperaturmaterialien und PSHU Kryo für piezoelektrische Messungen in einem Temperaturzyklus.
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In den 15 Jahren, in denen die Basisvariante des PSHU mittlerweile erfolgreich im Einsatz ist, haben wir den Probenhalter kontinuierlich verbessert. Bereits das Standardmodell ermöglicht es Ihnen, den Piezokoeffizienten unter Temperatur zu bestimmen – dank der Kombination mit unseren Lasersystemen auch automatisiert.
Sie profitieren, wie bei all unseren Probenhaltern PSHU von einer einfachen Handhabung und der damit verbundenen bedienerunabhängigen Reproduzierbarkeit der Ergebnisse.
Features
Spezielle Top-Elektrode gewährleistet zuverlässige und präzise Dehnungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer Großer Arbeitsbereich und großer Abstand zum Sensorkopf im Vergleich zu intensitätsbasierten Längenmesssystemen Verwendung von Silikonöl zur Erhöhung der Überschlagsspannung möglich Temperaturmessung nah an der Probe Spezielle Top-Elektrode gewährleistet zuverlässige und präzise Dehnungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer
Großer Arbeitsbereich und großer Abstand zum Sensorkopf im Vergleich zu intensitätsbasierten Längenmesssystemen
Verwendung von Silikonöl zur Erhöhung der Überschlagsspannung möglich
Temperaturmessung nah an der Probe
Spezifikationen
Temperatur: max. 250 °C Probendicke: 0,1–1 0 mm Probendurchmesser: 3–25 mm Spannung: max. 10 kV Temperatur:
max. 250 °C
Probendicke:
0,1–1 0 mm
Probendurchmesser:
3–25 mm
Spannung:
max. 10 kV
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Piezoelektrische Hochtemperaturmaterialien charakterisieren Sie zuverlässig mit dem Probenhalter PSHU HT. Mit seinem im Vergleich zum PSHU erweiterten Temperaturbereich ist er hierfür bestens geeignet, denn auch mit dem PSHU HT führen Sie über den gesamten Temperaturbereich hinweg automatisiert piezoelektrische Messung durch.
Wir sind stolz, sagen zu können, dass das aixPES mit dem Probenhalter PSHU HT das einzige kommerzielle Messsystem ist, mit dem Sie Strom (Polarisation) und Displacement parallel messen können.
Features
Verwendung von Spülgas möglich Kontaktierung von Proben für Strommessungen mit der Methode der virtuellen Erde Zuverlässige und präzise Dehnungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer Spezieller Top-Elektrodenkontakt zur Verwendung mit Laserinterferometer Temperaturmessung in der Nähe der Probe Anschlüsse für Trockenluft- oder Stickstoffzirkulation Verwendung von Spülgas möglich
Kontaktierung von Proben für Strommessungen mit der Methode der virtuellen Erde
Zuverlässige und präzise Dehnungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer
Spezieller Top-Elektrodenkontakt zur Verwendung mit Laserinterferometer
Temperaturmessung in der Nähe der Probe
Anschlüsse für Trockenluft- oder Stickstoffzirkulation
Spezifikationen
Temperaturbereich: Raumtemperatur bis max. 600°C Aufheizrate: 100 °C/min Probendicke: 0,3–10 mm Probendurchmesser: 3–25 mm Spannungsbereich: bis 10 kV Temperaturbereich:
Raumtemperatur bis max. 600°C
Aufheizrate:
100 °C/min
Probendicke:
0,3–10 mm
Probendurchmesser:
3–25 mm
Spannungsbereich:
bis 10 kV
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Wenn Sie hochgenaue piezoelektrische Messungen in einem Temperaturzyklus automatisiert messen möchten, bietet Ihnen aixACCT Systems das einzige kommerziell verfügbare Messsystem für diesen Anwendungsfall.
In der höchsten Ausbaustufe unserer PSHU Serie ist der Temperaturbereich auf -100 °C bis 600 °C erweitert. Im Hinblick auf neue Anforderungen an Sensor- oder Aktoranwendungen lassen sich so neue Materialkompositionen in einem enorm weiten Temperaturbereich untersuchen.
Features
Verwendung von Spülgas möglich Zuverlässige und präzise Verschiebungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer Spezieller Top-Elektrodenkontakt zur Verwendung mit Laserinterferometer Dewar-Gefäß für flüssigen Stickstoff Anschlüsse für Trockenluft- oder Stickstoffzirkulation
Verwendung von Spülgas möglich
Zuverlässige und präzise Verschiebungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer
Spezieller Top-Elektrodenkontakt zur Verwendung mit Laserinterferometer
Dewar-Gefäß für flüssigen Stickstoff
Anschlüsse für Trockenluft- oder Stickstoffzirkulation
Spezifikationen
Temperaturbereich: -100–600 °C Aufheizrate: 100 °C/min Abkühlgeschwindigkeit: 3 °C/min Probendicke: 0,3–10 mm Probendurchmesser: 3–25 mm Max. Spannung: 10 kV Temperaturbereich:
-100–600 °C
Aufheizrate:
100 °C/min
Abkühlgeschwindigkeit:
3 °C/min
Probendicke:
0,3–10 mm
Probendurchmesser:
3–25 mm
Max. Spannung:
10 kV
Das Multitalent: Bulk/CMA
Der Probenhalter Bulk/CMA eignet sich für eine Vielzahl verschiedener Materialien und Probengeometrien. Sowohl Bulk als auch Multilayer und sogar Polymere können damit vermessen werden.
Dank verschiedener Kontaktiermöglichkeiten lassen sich sowohl verschiedene Ausdehnungsrichtungen der Probe (d33, d31 etc) als auch unterschiedliche Probendicken (0.1 mm bis 30 mm) messen. Darüber hinaus sind Messungen in unterschiedlichen Temperaturbereichen möglich.
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Features
Kontaktierung von oben und unten, alternativ mit Seitenkontakten oder verdrahteten Proben Einspannen von Proben zwischen höhenverstellbaren Punktkontakten Zuverlässige und präzise Dehnungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer Großer Arbeitsbereich und großer Abstand zum Sensorkopf im Vergleich zu intensitätsbasierten Wegmesssystemen Kein Polieren der Probenoberfläche erforderlich Temperaturmessung an der Probe (Umgebungstemperatur) Kontaktierung von oben und unten, alternativ mit Seitenkontakten oder verdrahteten Proben
Einspannen von Proben zwischen höhenverstellbaren Punktkontakten
Zuverlässige und präzise Dehnungsmessungen mit kommerziellem Laserinterferometer
Großer Arbeitsbereich und großer Abstand zum Sensorkopf im Vergleich zu intensitätsbasierten Wegmesssystemen
Kein Polieren der Probenoberfläche erforderlich
Temperaturmessung an der Probe (Umgebungstemperatur)
Spezifikationen
Temperaturbereich: RT bis 250 °C oder 400 °C; mit Kühloption: -100–250 °C (400 °C) Probendicke: 0,1–30 mm Probendurchmesser
2–20 mm Andere Geometrie:
auf Anfrage Spannungsbereich: bis zu +/- 10 kV Temperaturbereich:
RT bis 250 °C oder 400 °C; mit Kühloption: -100–250 °C (400 °C)
Probendicke:
0,1–30 mm
Probendurchmesser
2–20 mm
Andere Geometrie:
auf Anfrage
Spannungsbereich:
bis zu +/- 10 kV
